Oferta Instytutu

Badanie termowizyjne pozwala na wykonanie pomiarów rozkładu temperatury w badanym obiekcie w postaci barwnej mapy uzyskanej z obrazu kamery termowizyjnej. Jest to nowoczesna i dokładna metoda pomiarowa, umożliwiające lokalizację gorących punktów, detekcję usterek objawiających się wydzielaniem nadmiarowej ilości ciepła czy wreszcie bezdotykowy i bezinwazyjny pomiar temperatury w warunkach szczególnie niebezpiecznych i w miejscach trudno dostępnych dla metod stykowych (pomiar za pomocą termometrów).

Instytut wykonuje pomiary termowizyjne w zakresie:

• maszyn i transformatorów,
• układów mechatronicznych i układów automatyki przemysłowej,
• instalacji elektrycznych.

Wynik pomiarów przedstawiane są w postaci barwnych map lub filmów.

Oferta pomiarów i testów wykonywanych w laboratorium EMClab PŁ

• Emisje Harmoniczne w prądzie zasilania,
• Emisje Przewodzone (9 kHz - 30 MHz),
• Emisje Promieniowane (30 MHz - 1 GHz),
• Badanie zmian napięcia, wahań napięcia i migotania światła (flicker),
• Odporność na zaburzenia radioelektryczne przewodzone,
• Odporność na pole elektromagnetyczne GTEM,
• Odporność na ESD (wyładowanie elektrostatyczne) ,
• Odporność na BURST (serie elektr. stanów przejściowych) ,
• Odporność na SURGE (udary) ,
• Odporność na zapady, przerwy, zmiany napięcia ,
• Odporność na pole magnetyczne,
• Opracowanie sprawozdań i raportów z badań,
• Badania konstruktorskie

Aparatura zgromadzona w Laboratorium EMC oraz jej możliwości badawcze

1. Generator BESTPlus - firmy Schaffner

Do wykonywania testów na badanie odporności EMC (immunity tests), w tym:

• Szybkie zakłócenia impulsowe BURST
• Zakłócenia impulsowe udarowe SURGE
• Wyładowania elektryczności statycznej ESD
• Dynamiczne zmiany wartości napięcia zasilania PQT

Podstawowe dane techniczne:

• Zasilanie DUT (80 –260) Vrms, 50/60 Hz, 16 Arms (0 –65) Vdc, 10 Adc
• BURST (0,2 – 2,2) kV / 1kW lub (0,1 – 1,1) kV / 50W , częstotliwość (1– 100) kHz, okres (0,1 – 99) s, liczba impulsów (1 – 75)
• SURGE (0,2 – 2,2) kV / no load, (0,1 – 1,1) kA / short circuit
• ESD powietrze (0,2 – 8,8) kV, kontakt (0,2 – 6,6) kV

BURST

Serie impulsów (BURST) o wysokim napięciu i krótkim czasie narastania symulujące zakłócenia wytwarzane przez indukcyjnie obciążone przełączniki elektromechaniczne.

Zakłócenia te mogą być sprzęgane:

1. bezpośrednio przez sieć zasilającą, w efekcie podłączenia do tej sieci urządzenia generującego zakłócenia.
2. na drodze sprzężenia pojemnościowego – z urządzenia zakłócającego lub linii zasilającej do urządzeń będących w pobliżu.

Generator Best Plus umożliwia przeprowadzanie testów obydwoma metodami sprzęgania (galwanicznie w przewody zasilania oraz za pomocą pojemnościowych cęgów sprzęgających).

SURGE

Testy udarowe (SURGE) symulują zakłócenia impulsami wysokoenergetycznymi, np. w efekcie wyładowań piorunowych w sieć zasilania lub przez wyłączanie dużych obciążeń. Testowe impulsy udarowe można wprowadzać do przewodów zasilania (galwanicznie) lub do innych obwodów (za pomocą sprzęgania pojemnościowego).

ESD

Testy wyładowania elektrostatycznego (ESD - Electrostatic Discharge) symulują impulsy o wysokim napięciu, które mogą się pojawić w efekcie wyładowania stykowego (osoba naładowana bezpośrednio dotyka obiekt) lub w efekcie wyładowania powietrznego (wyładowanie łukowe przez powietrze). Na wyposażeniu generatora BESTPlus znajduje się pistolet ESD z odpowiednimi palcami testującymi dla obydwu rodzajów wyładowań.

PQT

Testy jakości zasilania (PQT - Power Quality Testing) symulują wahania i zaniki napięcia w sieci zasilającej.

2. EMI Precompliance Test System - zestaw HP 84110EM firmy Hewlett-Packard

 Zestaw pomiarowy HP 84110EM służy do badania (w kategorii precompliance oraz diagnostyka) emisyjności zakłóceń przewodzonych i promieniowanych. W skład zestawu wchodzą następujące elementy:

• Analizator widma (HP 8591EM), 9kHz - 1,8GHz
  • kompletny setup pomiarowy EMC (span oraz CISPR16 bandwidth)
  • wyświetla dwa limity (określające poziom dopuszczalnych zakłóceń)
  • korekcja dla urządzeń pośredniczących (np. antena, LISN, wzmacniacz, sonda pola, itp.)
  • pomiar amplitud peak, quasi-peak, average (kursory oraz zoom)
  • wewnętrzna lista może zawierać do 239 pomiarów
• Tracking generator (w obudowie analizatora widma)
• Sztuczna sieć - LISN (HP 11967D)
• Przedwzmacniacz (HP 8447F)
• Ogranicznik stanów dynamicznych (HP 11947)
• Sonda pola bliskiego (HP 11940A), 30MHz - 1GHz
• Sonda pola bliskiego (HP 11941A), 9kHz - 30MHz
• Antena dwustożkowa (HP 11955A), 30MHz - 300MHz
• Antena prętowa (HP 11956A), 200MHz - 1GHz
• Statyw antenowy (HP 11968C)

3. Precyzyjny Miernik LCR - HP 4284A firmy Hewlett-Packard

Służy do pomiaru następujących parametrów:

Z , Y , q , L , C , R , G , D , Q , RS , RP , X , B

Podstawowe dane techniczne:

• częstotliwość sygnału testowego 20Hz - 1MHz, ± 0,01% (8610 wybieralnych częstotliwości)
• zakresy pomiarowe: 0,01nH - 100kH, 0,01fF - 10F, 0,01mW - 100MW
• dokładność pomiaru ± 0,05%
• Poziomy sygnałów testowych (rms): 5mV -20V, 50m A - 200mA

4. AC Power Source / Analyzer - HP 6813B firmy Hewlett-Packard

Do wykonywania testów emisyjnościowych (emission) oraz odpornościowych (immunity) w zakresie zakłóceń przewodzonych o niskiej częstotliwości, w tym:

• Testuje emisyjność - emissions of quasi-stationery current harmonics, fluctuating current harmonics, and voltage fluctuations and flicker.
• Testuje odporność - immunity to voltage dips, interruptions and fluctuations, and frequency variations.
• Testuje odporność - immunity to harmonic, interharmonic, and mains signaling voltages.

Podstawowe dane techniczne:

• 1-fazowe źródło zasilania, 1750VA, 300Vrms, 13Arms, 80Apeak, ± 425Vdc, 10Adc
• Częstotliwość wyjściowa: 45Hz - 1kHz albo dc
• Programowalne: napięcie, częstotliwość, faza, impedancja wyjściowa, poziom harmonicznych, symulacja sekwencji zakłóceń w zasilaniu
• Pomiary (rozdzielczość 16-bitowa): Vrms, Irms, Ipeak, częstotliwość, faza, moc pozorna, moc bierna moc czynna, współczynnik mocy (PF), zawartość harmonicznych (THD)
• Analiza harmoniczna napięcia i prądu (do 50-tej harmonicznej)

5. Harmonic / Power Analyzer - HA 2000 firmy AMPROBE

Mały, lekki, przenośny przyrząd do diagnostyki obwodów zasilanych z sieci niskiego napięcia. Umożliwia pomiary i analizę prądów, napięć, mocy oraz zawartości harmonicznych.

Podstawowe dane techniczne:

• Zakres napięciowy (AC/DC) (1 - 600) Vrms (1000Vpeak)
• Zakres prądowy (AC) (1 - 1000) Arms
• Zakres mocowy (0 - 600) kW
• Częstotliwość (40 - 65) Hz
• Analiza harmoniczna w prądzie i napięciu: do 19-tej harmonicznej (na wyświetlaczu) lub do 31-ej harmonicznej (po załadowaniu danych do PC-ta) oraz wyznaczenie współczynnika THD
• Pomiary mocowe: moc czynna, moc bierna, moc pozorna, moc odkształcenia, współczynnik mocy (PF, dPF)
• Pamięć pozwalająca na zarejestrowanie 21 pomiarów
• Współpraca z PC-tem (download) umożliwia wyznaczenie dodatkowych wielkości: współczynnika szczytu (Crest factor), współczynnika kształtu (Form factor) oraz współczynnika przeciążenia transformatora K (K factor)

6. Oscyloskop – TDS 680C firmy Tektronix

Umożliwia pomiar i wszechstronną analizę (w dziedzinie czasu i w dziedzinie częstotliwości) zakłóceń elektromagnetycznych w paśmie częstotliwości do 1 GHz.

Podstawowe dane techniczne:

• Liczba kanałów 2 + 2
• Pasmo analogowe 1 GHz
• Częstotliwość próbkowania 5 GS/s (wszystkie kanały jednocześnie)
• Maksymalna długość zapisu 15000 punktów (na jeden kanał)
• Rozdzielczość pionowa 1 mV/div – 10 V/div
• Podstawa czasu 200 ps/div – 10 s/div
• Dokładność pomiaru czasu
• Przełączalne wejście 50 W / 1 MW , AC / DC
• Analiza i przetwarzanie:
  • Przetwarzanie w dziedzinie czasu – interpolacja sin(x)/x lub liniowa, uśrednianie, Auto Setup,
  • Operacje – FFT, całkowanie, różniczkowanie, dodawanie, odejmowanie, mnożenie, odwracanie,
  • Porównywanie przebiegów z przebiegiem odniesienia,
  • Histogramy – umożliwiają analizę rozkładu statystycznego,
  • Funkcja ZOOM z podwójnym oknem.

7. Komora GTEM 1000 – firmy TESEQ

Komora GTEM daje możliwość wykonywania pomiarów emisji zakłóceń w bardzo szerokim paśmie częstotliwości oraz badań odporności na promieniowanie radiowe. Komora GTEM składa się z obudowy ekranowanej zapewniającej możliwość wykonywania testów w środowisku miejskim (pełnym zakłóceń radiowych), a jednocześnie ekranowanie zapobiega wydostawaniu się emisji radiowych na zewnątrz.

Podstawowe dane techniczne:

• Częstotliwość pracy: DC do 20 GHz
• Obszar pomiarowy wg normy: 0,6 x 0,6 x 0,3 m
• Maksymalny obszar pomiarowy (pomiar inżynierski): 0,74 x 0,74 x 0,66 m
• Impedancja komory 50 ohm
• Panel EUT - filtr sygnałowy 2 x 16 A, 1 gniazdo zasilania, główny wyłącznik, wyłącznik różnicowoprądowy, włącznik oświetlenia, zabezpieczenia różnicowoprądowe
• Panel sygnałowy - 3 x złącze typu N oraz przepust światłowodowy typu „rura” 3/4”
• Funkcja monitorowania badanego urządzenia wewnątrz komory (światłowód)
• Maksymalna moc wejściowa: 1000W

Laboratorium NanoLab oferuje kompleksowe badania mikroskopowe próbek przewodzących i nieprzewodzących w szerokim zakresie powiększeń – od skali makro do nano. Analizy przeprowadzane są z wykorzystaniem mikroskopii elektronowej (SEM) oraz mikroskopii sił atomowych (AFM).

Jako badanie wstępne, w ramach oceny parametrów badawczych, stosowana jest także mikroskopia świetlna.

Mikroskopia skaningowa elektronowa (SEM)

Laboratorium dysponuje nowoczesnym mikroskopem skaningowym JEOL JSM–IT200 In-Touch-Scope, który umożliwia badanie różnorodnych materiałów dzięki:

•      Działu elektronowemu z katodą wolframową, zapewniającemu jasną i koherentną wiązkę elektronową bez konieczności stosowania wysokich prądów emisji.
•      Szerokiemu zakresowi napięcia przyspieszającego (od 500 V do 20 kV).

Możliwości badawcze

•      Detektor elektronów wtórnych (SE) – odwzorowanie topografii preparatu, analiza próbek w stanie natywnym.
•      Detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSE) – analiza składu materiałowego po odwrotnym spolaryzowaniu siatki detektora SE.
•      Mikroanaliza rentgenowska (EDS) – analiza struktury i składu chemicznego próbek na poziomie molekularnym.
•      Możliwość badania materiałów nieprzewodzących – próbki mogą zostać pokryte materiałem przewodzącym za pomocą napylarki sputteringowej.

Cennik SEM

•      Mikroanaliza powierzchni pojedynczej próbki (bez przygotowania) – 500 zł netto
•      Z przygotowaniem próbki – 550 zł netto
•      Dodatkowa analiza EDS – 650 zł netto

(Ceny zawierają koszt pracy operatora: 250 zł netto dla próbki bez przygotowania, 350 zł netto dla próbki wymagającej przygotowania.)

Mikroskopia sił atomowych (AFM)

Laboratorium dysponuje mikroskopem NT-MDT Solver Pro AFM, który umożliwia:

•      Skanowanie powierzchni w zakresie 50x50 mm
•      Badanie obiektów o wysokości do 15 mm
•      Obserwację w trybach „semi kontakt” oraz „kontakt”
•      Analizę mikro- i nanostruktur materiałów organicznych i nieorganicznych z nanometrową rozdzielczością

Cennik AFM

•      Analiza jednej próbki wraz z przygotowaniem – 1000 zł brutto